Zubehör für diffuse/spiegelnde Reflexion
Es ist ein vielseitiges Zubehör für diffuse Reflexion und Spiegelreflexion.Der diffuse Reflexionsmodus wird für die Analyse transparenter und pulverförmiger Proben verwendet.Der Spiegelreflexionsmodus dient zum Messen glatter reflektierender Oberflächen und beschichteter Oberflächen.
- Hoher Lichtdurchsatz
- Einfache Bedienung, keine interne Anpassung erforderlich
- Optische Aberrationskompensation
- Kleiner Lichtfleck, geeignet zur Messung von Mikroproben
- Variabler Einfallswinkel
- Schneller Wechsel des Pulverbechers
Horizontale ATR/Variabler Winkel ATR (30°~ 60°)
Die horizontale ATR eignet sich für die Analyse von Gummi, viskosen Flüssigkeiten, großflächigen Proben und biegsamen Feststoffen usw. Die ATR mit variablem Winkel wird zur Messung von Filmen, Anstrich- (Beschichtungs-) Schichten und Gelen usw. verwendet.
- Einfache Installation und Bedienung
- Hoher Lichtdurchsatz
- Variable IR-Eindringtiefe
IR-Mikroskop
- Analyse von Mikroproben, Mindestprobengröße: 100 µm (DTGS-Detektor) und 20 µm (MCT-Detektor)
- Zerstörungsfreie Probenanalyse
- Transluzente Probenanalyse
- Zwei Messmethoden: Transmission und Reflexion
- Einfache Probenvorbereitung
Einzelreflexion ATR
Es bietet einen hohen Durchsatz bei der Messung von Materialien mit hoher Absorption, wie z. B. Polymer, Gummi, Lack, Fasern usw.
- Hoher Durchsatz
- Einfache Bedienung und hohe analytische Effizienz
- Je nach Anwendung können ZnSe-, Diamant-, AMTIR-, Ge- und Si-Kristallplatten ausgewählt werden.
Zubehör zur Bestimmung von Hydroxyl in IR-Quarz
- Schnelle, bequeme und genaue Messung des Hydroxylgehalts in IR-Quarz
- Direkte Messung an IR-Quarzrohr, kein Schneiden von Proben erforderlich
- Genauigkeit: ≤ 1×10-6(≤ 1 ppm)
Zubehör für die Bestimmung von Sauerstoff und Kohlenstoff in Siliziumkristallen
- Spezieller Plattenhalter aus Silikon
- Automatische, schnelle und genaue Messung von Sauerstoff und Kohlenstoff in Siliziumkristallen
- Untere Nachweisgrenze: 1,0 x 1016 cm-3( bei Raumtemperatur)
- Dicke der Siliziumplatte: 0,4 bis 4,0 mm
Zubehör zur Überwachung von SiO2-Pulverstaub
- Spezielles SiO2Pulverstaubüberwachungssoftware
- Schnelle und genaue Messung von SiO2Pulverstaub
Komponentenprüfzubehör
- Schnelle und genaue Messung der Reaktion von Komponenten wie MCT, InSb und PbS usw.
- Kurve, Spitzenwellenlänge, Stoppwellenlänge und D* usw. können dargestellt werden.
Zubehör zum Testen von Glasfasern
- Einfache und genaue Messung der Verlustrate von IR-Lichtwellenleitern, die die Schwierigkeiten beim Testen von Fasern überwinden, da sie sehr dünn sind, sehr kleine Lichtdurchgangslöcher haben und schwer zu befestigen sind.
Zubehör für die Schmuckinspektion
- Präzise Identifizierung von Schmuck.
Universelles Zubehör
- Feste Flüssigkeitszellen und abnehmbare Flüssigkeitszellen
- Gaszellen mit unterschiedlicher Weglänge