1. Gleichzeitige Bestimmung von Ag, Sn, B, Mo, Pb, Zn, Ni, Cu und anderen Elementen in geologischen Proben; es kann auch zum Nachweis von Spuren von Edelmetallelementen in geologischen Proben verwendet werden (nach Trennung und Anreicherung);
2. Bestimmung von mehreren bis Dutzenden von Verunreinigungselementen in hochreinen Metallen und hochreinen Oxiden, Pulverproben wie Wolfram, Molybdän, Kobalt, Nickel, Tellur, Bismut, Indium, Tantal, Niob usw.;
3. Analyse von Spuren- und Spurenelementen in unlöslichen Pulverproben wie Keramik, Glas, Kohlenasche usw.
Eines der unverzichtbaren unterstützenden Analyseprogramme für geochemische Explorationsproben
Ideal zur Erkennung von Verunreinigungskomponenten in hochreinen Substanzen
Effizientes optisches Abbildungssystem
Das Ebert-Fastic-Optiksystem und der Drei-Linsen-Lichtweg werden eingesetzt, um Streulicht effektiv zu entfernen, Halo und chromatische Aberration zu eliminieren, den Hintergrund zu reduzieren, die Lichtsammelfähigkeit zu verbessern, eine gute Auflösung und eine gleichmäßige spektrale Linienqualität zu erzielen und die Vorteile des optischen Weges eines Ein-Meter-Gitterspektrographen vollständig zu übernehmen.
AC- und DC-Bogenanregungslichtquelle
Der Wechsel zwischen Wechsel- und Gleichstrom ist unkompliziert. Je nach Prüfling ist die Wahl des geeigneten Anregungsmodus vorteilhaft für die Analyse- und Testergebnisse. Für nichtleitende Proben sollte der Wechselstrommodus, für leitende Proben der Gleichstrommodus verwendet werden.
Die oberen und unteren Elektroden bewegen sich automatisch gemäß den Softwareparametereinstellungen in die vorgesehene Position und werden nach Abschluss der Anregung entfernt und wieder eingesetzt. Das System ist einfach zu bedienen und zeichnet sich durch eine hohe Ausrichtungsgenauigkeit aus.
Die patentierte Elektroden-Bildprojektionstechnologie zeigt den gesamten Anregungsprozess auf dem Beobachtungsfenster vor dem Instrument an. Dies ermöglicht es dem Benutzer, die Anregung der Probe in der Anregungskammer bequem zu beobachten und trägt zum Verständnis der Eigenschaften und des Anregungsverhaltens der Probe bei.
| Optischer Pfad | Vertikal symmetrischer Ebert-Fastic-Typ | Aktueller Bereich | 2~20A (Wechselstrom) 2–15 A (Gleichstrom) |
| ebene Gitterlinien | 2400 Stück/mm | Anregungslichtquelle | Wechsel-/Gleichstrombogen |
| Brennweite des optischen Weges | 600 mm | Gewicht | etwa 180 kg |
| Theoretisches Spektrum | 0,003 nm (300 nm) | Abmessungen (mm) | 1500 (L) × 820 (B) × 650 (H) |
| Auflösung | 0,64 nm/mm (erste Klasse) | Konstante Temperatur der Spektroskopiekammer | 35 °C ± 0,1 °C |
| Streuungsverhältnis der fallenden Linie | Synchrones Hochgeschwindigkeits-Datenerfassungssystem auf Basis von FPGA-Technologie für Hochleistungs-CMOS-Sensoren | Umweltbedingungen | Raumtemperatur 15 °C bis 30 °C Relative Luftfeuchtigkeit < 80 % |